關(guān)鍵詞：mnbi摻雜 rietveld全譜擬合 晶體結(jié)構(gòu) 磁性能 

摘要：本研究采用真空電弧熔煉法制備了MnBi1-xCrx(x=0.04,0.08,0.12,0.16)系列合金,利用X射線衍射儀(XRD)、Rietveld全譜擬合和振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)研究和測定MnBi1-xCrx系列合金樣品的晶體結(jié)構(gòu)和磁性能。結(jié)果發(fā)現(xiàn),退火后的樣品主相是低溫相(LTP)MnBi(空間群:P63/mmc(194))。Rietveld全譜擬合分析確定每個(gè)樣品中各相的含量并解析出主相MnBi1-xCrx的晶體結(jié)構(gòu)。M(M=Bi,Cr)原子之間的原子間距dM-M隨著摻雜量增大而增大。M原子與Mn原子的間距dM-Mn隨著摻雜量增大而減小。在400 K時(shí)趨于飽和,且在摻雜量小于x=0.12時(shí),飽和磁化強(qiáng)度隨著摻雜量的增加而增大,在摻雜量大于x=0.12時(shí),飽和磁化強(qiáng)度已經(jīng)達(dá)到飽和,為20.55 emμ/g,且不隨摻雜含量的變化而變化。隨著Cr含量的增加,矯頑力亦逐漸增加,并且在摻雜量為x=0.12時(shí)達(dá)到最大值。隨著測試溫度的上升,合金矯頑力均呈上升趨勢。MnBi1-xCrx(x=0.04,0.08,0.12,0.16)的德拜溫度分別為378.46 K,369.52 K,354.62 K和351.64 K。

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